文献

J-GLOBAL ID：201602019060746818   整理番号：66A0233005

X線マイクロアナライザーによる軽元素の分析

Analyse d’Elements lSgers par microanalyseur elec-tronique de rayons X.

著者 (1件)： PERROT P H
資料名： Metaux  (Metaux)
巻： 40  号： 484  ページ： 488-490  発行年： 1965年 
JST資料番号： D0067A  ISSN： 0026-1084  CODEN： MTUXA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： フランス (FRA) 

抄録/ポイント： X線マイクロアナライザーによる軽元素C,O,Nなどの分析方法の可能性。非分散法においてはB,C,O,FのKスペクトル線の幅と高さの比はそれぞれ144,110,87,60%で,十分に分離できたMg,Al合金では粉界のMgOの存在を検出できたが,多数の軽元素を含む場合は困難であった。分散法の場合鋼中の炭素の検出限界は約0.05%であるが,実用的には約0.1%と考えられる。この場合標準試料にはCが0.001~0.03%の電解鉄を用いた;図2表1

タイトルに関連する用語 (3件)： X線マイクロアナライザー ,  軽元素 ,  分析