抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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この方法は任意の光学的平面に応用でき,異なった光学的性質の表面を比較できる.すり傷の深さは光学的薄膜の膜厚よにり小さいので下地よしりむしろ薄膜の性質が測定される.摩耗した後表面をアルミづけし,反射光束から散乱された光を新設計のほやげ測定器で完全半球にわたりあつめる.ガラス板,2種の透明プラスチック,Cr,MgF2.SiO等の薄膜の測定結果を示した;図8表1参17