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J-GLOBAL ID：201602019256307618   整理番号：71A0064637

ひずみゲージ法による多層板残留応力測定

著者 (2件)： 土肥修 ,  う飼隆好
資料名： 日本機械学会論文集
巻： 37  号： 295  ページ： 471-480  発行年： 1971年 
JST資料番号： F0227A  CODEN： NKGRA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 抵抗線ひずみゲージを用いた多層板残留応力測定法を提唱し,厳密な理論計算式を与えた。薄板に対してはゲージベース厚さを考慮する必要がある。測定温度が基準温度と異なる場合の温度補正式を,3層板.2層板について示した。電着層の表面の応力値をもって電着応力とすれば,銅で1.5kg/mm²,ニッケルでは24.5kg/mm²であり,ともに引張応力である;写図10表1参4

シソーラス用語： ひずみ計 ,  応力測定 ,  残留応力

引用文献 (4件)：

• (1) Treuting, R.G. and Read, W.F., J. Appl. Phys., 22-2 (1951), 130.
• (2) 久野・土肥,北海道大学工学部研究報告,9(昭28),8.
• (3) 土肥,北海道大学工学部研究報告,27(昭36),1.
• (4) 土肥・鵜飼,機論,36-285(昭45-5),697.

タイトルに関連する用語 (4件)： ひずみゲージ ,  層板 ,  残留 ,  応力測定