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J-GLOBAL ID：201602019455236576   整理番号：58A0034166

電着金属中の残留歪をひきおこす原因 (ゲージ地金や電鋳部分の歪曲をおこし,はがれ,裂れ,ふくれの原因となるひずみについての理論,実験技術,ひずみと電着層など)

Factors Affecting Residual Stress in Electrodeposited Metals.

著者 (1件)： KUSHNER J B
資料名： Met Finish  (Metal Finishing)
巻： 56  号： 4  ページ： 46-51  発行年： 1958年 
JST資料番号： D0049A  ISSN： 0026-0576  CODEN： MEFIA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

分類 (1件)： (CB060106)

タイトルに関連する用語 (11件)： 残留歪 ,  原因 ,  ゲージ ,  地金 ,  電鋳 ,  はがれ ,  ふくれ ,  ひずみ ,  理論 ,  実験技術 ,  電着