抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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テルルを約13原子%まで含有する無定形セレンを93,110°Cおよび冷却過程で結晶化し電気伝導度の温度依存性を測定.93あるいは110°Cで結晶化した試料の電気伝導度はテルル2%付近まで急激に低下するが,テルル含量がそれ以上になると増加する,93,110°Cで結晶化した試料を190°Cで再熱処理すると,電導度の値は初めの結晶化温度に関係なく,ほぼ同じく高い値を示す.X線回折の結果から2%以下のテルル量では,セレン鎖の末端基にテルルが結合するためで,2%以上ではSe-Se結合を切断し,新化合物を作るものと考察.低温で結晶化した試料には格子欠陥による結晶ひずみが生ずることが判明:参10