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J-GLOBAL ID：201602019759324498   整理番号：65A0075690

だ円偏光法による膜厚の決定とニッケルの不動態化過程中での伝導度

Plllipsometric determination of the film thickness and conductivity during the passivation process on nickel.

著者 (3件)： REDDY AKN ,  RAO M G B ,  BOCKRIS J OM
資料名： J Chem Phys  (Journal of Chemical Physics)
巻： 42  号： 6  ページ： 2246-2248  発行年： 1965年 
JST資料番号： C0275A  ISSN： 0021-9606  CODEN： JCPSA6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： Heで飽和した0.5ののKeSO4と0.01NのH2SO4(pH=3.1)中にニッケルを浸し,陽極不動態化を行なった。この過程をだ円偏光解析法により追跡した

タイトルに関連する用語 (6件)： だ円偏光法 ,  膜厚 ,  ニッケル ,  不動態化 ,  過程 ,  伝導度