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J-GLOBAL ID：201602019829823012   整理番号：72A0258103

Pd-Ag厚膜抵抗の基本組成と電気的特性の変化

Variations of electrical characteristics with the basic compositions of palladium-silver thick film resistors.
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著者 (2件)：
KUBOTA T

KUBOTA T について

, 
SUGATA E

SUGATA E について


資料名：
Int Hybrid Microelectron  (International Hybrid Microelectronics Symposium)

Int Hybrid Microelectron について


巻： 1970  ページ： 8.6.1-8.6.16  発行年： 1970年 
JST資料番号： A0946B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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Pd-Ag厚膜抵抗の粒子の大きさ,ガラス含有比,焼きつけ温度と電気的特性との関係を調べた。 焼きつけ時に酸化と合金化がおきることをX線回折で確認し,それと電気的特性との関係を論じた抵抗素子の電気的特性は主に粒子の大きさとその分布に関係し.化学的金属学的組成と同様に無視しえない因子であることがわかった;写図17表4参14
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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X線回折

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厚膜抵抗

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準シソーラス用語：
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電気的特性

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基本組成

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電気的特性

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