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J-GLOBAL ID：201602019847892803   整理番号：71A0295074

D領域の電離を決めるための微分位相の部分反射技術

Differential-phase partial-reflection technique for the determination of D-region ionization.

著者 (3件)： BIEL H A ,  FLOOD W A ,  CAMNITZ H G
資料名： J Geophys Res  (Journal of Geophysical Research)
巻： 75  号： 25  ページ： 4863-4870  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0294A  ISSN： 0148-0227  CODEN： JJGRDA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： D領域からの部分反射実験によって,電子密度の高度分布を求める微分位相法について述べる。この方法では,特定形式の位相間の差の線積分への複素形式散乱振幅の相互相関の依存度を用いる。複素形式散乱振幅の相互相関は,偏波特性をもった受信振幅の自乗平均から直接決定される。したがって位相の直接測定をする必要はない。微分位相法には3つの求め方がある。そのうちの2つは,左および左回り円偏波受信機と直線偏波受信機からの散乱振幅を測る方法,第3は3個の直線偏波受信機からの散乱振幅を測る方法である。いずれの場合も送信波は直線である;写図4参6

シソーラス用語： D層 ,  衝撃波 ,  電子密度
準シソーラス用語： 電子密度(D層) ,  微分位相法 ,  微分位相法(電子密度) ,  部分反射法 ,  部分反射法(電子密度)

タイトルに関連する用語 (4件)： D領域 ,  電離 ,  微分 ,  位相