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J-GLOBAL ID：201602020183138926   整理番号：59A0013754

高圧下の試料からX線回折図形を得るための新しい装置

New device for obtaining X-ray diffraction patterns from substances exposed to high pressure.
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著者 (3件)：
JAMIESON J C

JAMIESON J C について

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LAWSON A W

LAWSON A W について

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NACHTRIEB N D

NACHTRIEB N D について


資料名：
Rev Sci Instrum  (Review of Scientific Instruments)

Rev Sci Instrum について


巻： 30  号： 11  ページ： 1016-1019  発行年： 1959年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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試料は,ダイヤモンドのピストンによって,圧縮されて薄板状になった粉末.圧力は,ロックナットによってクランプされ,室温下で25kbar程度のものである.ビスマスを試料にした場合を記している
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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高圧

高圧 について

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試料

試料 について

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X線回折図形

X線回折図形 について


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