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J-GLOBAL ID：201602020233474078   整理番号：70A0382878

複光束化によるスペクトル線強度の測定

著者 (2件)： 去来川汎人 (東大(工)) ,  仁木栄次 (東大(工))
資料名： 分析化学
巻： 19  号： 3  ページ： 318-324  発行年： 1970年 
JST資料番号： F0008A  ISSN： 0525-1931  CODEN： BNSKAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN) 

抄録/ポイント： 光電測光法により発光分光分析を行なう場合に生じる装置に起因した変化の速い雑音および変化の遅い雑音をともに除去することを目的として考察を行ない,複光束化した非走査型スペクトル線強度測定法について検討.この方法は分光器の出ロスリットの上半分の直前に平行石英板を傾斜して設置することにより光の波長をわずかずらし,一方の光束のバックグラウンド強度と線強度と他力の光束のバックグラウンド強度とを交互に通し,光電流の交流成分を同期整流して線強度のみを得る力法であるが,この方法は従来からの単光束走査型測光法に比較して検出限界が大幅に改善されることが判明:参3

引用文献 (3件)：

• 1) R. Herrmann, W. Lang, K. Rüdiger : Z.Anal. Chem., 206,241 (1964).
• 2) 瀧 保夫 : "電気通信大学講座", 第19巻 (通信方式), p. 177 (1963), (コロナ社).
• 3) 瀧 保夫 : 同上, p. 113.

タイトルに関連する用語 (2件)： 光束 ,  スペクトル線強度