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J-GLOBAL ID：201602020395392938   整理番号：60A0101923

環境試験の充実した計画による電子回路部品の信頼度向上

Improved component reliability through a comprehensive program of environmental testing.

著者 (1件)： KUKAWKA S J
資料名： IRE Trans Reliab Qual Con  (IRE Transactions on Reliability & Quality Control)
巻： RQC-9  号： 2  ページ： 45-50  発行年： 1960年 
JST資料番号： C0448A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： Bourns社においては特殊ポテンショメータの製作に当って,製品の抜取検査をMIL-STD-105Aに従って抽出を決定し,9個の基本モデルの内5個は多量生産品であるので毎月抽出し,残りは特殊品で4半期毎に抽出した.検査法としては特殊製品のため既存のM工L規格を参照して社内試験規格を作り,系列Aは全製品,糸列Bは全数の40%,系列Cは30%試験を行なった.環境試験として-65°C24時間試験,温度サイクリング,20Gまたは5~2000c/sの振動試験も含む.データはIBMカードで整理中

タイトルに関連する用語 (4件)： 環境試験 ,  計画 ,  電子回路部品 ,  信頼度