抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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ホログラフィー干渉の干渉じまは物体のいろいろの変形によって,その形と局在する位置が変わるのでその解析によって物体の変形が測定できる。物体を照明する照明光は観測方向に対して平行にすべきであり.等傾角干渉じまと等厚干渉じまとを分離することにより物体の回転縦横への変形が測定できることが明らかになった;写図12参2