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J-GLOBAL ID：201602020448722420   整理番号：70A0045960

アナログ技術を利用した表面あらさ解析

Surface finish analysis through analog techniques.
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著者 (1件)：
HAMMOND D L

HAMMOND D L について


資料名：
Pap Soc Automot Eng  (Papers. Society of Automotive Engineers)

Pap Soc Automot Eng について


号： 700142  ページ： i,1-8  発行年： 1970年 
JST資料番号： D0244B  CODEN： SAUPA   資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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触針法を用いた表面あらさ計の磁気テープによる記録,表面解析のためのグラフィックディスプレイ,自乗平均あらさ,標準偏差,最大高さ,10点平均あらさ,振幅確率密度,中心線平均あらさ,パワースペクトル密度,などを説明し,次に実験的にこれらを証明;写図7表3
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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表面あらさ解析

表面あらさ解析 について


タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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アナログ

アナログ について

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表面あらさ

表面あらさ について

, 
解析

解析 について


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