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J-GLOBAL ID：201602020516427980 整理番号：65A0009157
長く分離された干渉ビーム路程をもつX線干渉計
An X-ray interferomater with long separated interfer-ing beam paths.
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資料名：
Appl Phys Lett (Applied Physics Letters)
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巻：
7
号：
4
ページ：
99-100
発行年：
1965年
JST資料番号：
H0613A
ISSN：
0003-6951
CODEN：
APPLAB
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
短報
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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以前提案したX線干渉計を改良し比較的厚い試料でもビームの重り域に入れずにそう入できるようにした。改良点は2つの透過鏡を同一平面に置かず互に離れた位置におき二つの干渉路を極めて長くしかつ分離した部分をもつようにする。実際の応用例を示す
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