抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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磁気スペクトロメータを用いて,薄いベリリウム標的からのπ+及びガ中間子の生成断面積の大きさの測定を行なった。系の立体角を信頼できる精度で計算できるようにシンチレーション計数管を配置した。断面積の測定値から運動量1.0-5.OMeV/cの二次粒子線の強度が計算できる。また,1.OGeV/c以上では前方に生成されるπ+及びガの量は,前者の方が後者に比べて多いというよく知られた事実が確認された;写図3表1参8