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J-GLOBAL ID：201602021014597594   整理番号：71A0389784

Moire法による測定ひずみの下限界

著者 (3件)： 村上一実 (大阪産大(工)) ,  伊藤貞則 (大阪産大(工)) ,  村上裕則 (大阪産大(工))
資料名： 材料  (材料試験)
巻： 19  号： 202  ページ： 669-673  発行年： 1970年 
JST資料番号： F0385A  ISSN： 0514-5163  CODEN： ZARYA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN) 

抄録/ポイント： Moireしまの測定によって求められるひずみと測定誤差との関係を考察.しま間距離が試験片寸法に比べて大きいと測定点が荒くなるため,改良法としてMismatch法,Misalignment法などが考案されたが,Mismatch量,Misalignment量が増すほど逆にしま間距離の変化率は小さくなる.Moire法によるひずみはしま間距離を測定することによって得られるが,Moireしまは明暗のくりかえしで最暗部の決定に測定装置や測定者の誤差が入る恐れがある:参4

引用文献 (4件)：

• 1) Theocaris, P.S., Appl. Mech. Rev., 15, 5, 333 (1962).
• 2) Morse. S., et al., Proc. ASCE, 86, EM-4, 105 (1960).
• 3) Theocaris, P.S., Exp. Mech, 4-8, 223 (1964).
• 4) 田中吉之助, 中島稔, 材料試験, 10, 58 (1961).

タイトルに関連する用語 (3件)： Moire法 ,  ひずみ ,  下限