文献

J-GLOBAL ID：201602021033962783   整理番号：71A0088729

無電解ニッケルめっき中のほう素の分光写真法による測定

Spectrographic determination of boron in electroless nickel coating.

著者 (2件)： LONG T S ,  GONNELLA N T
資料名： Plating  (Plating)
巻： 58  号： 2  ページ： 132-134  発行年： 1971年 
JST資料番号： D0341A  ISSN： 0032-1397  CODEN： PLATA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 無電解ニッケルめっきの還元剤として,ジメチルアミノボロン(DMAB)を使用した場合,めっき皮膜中のほう素の含有量が多いと,めっき面は黒くて多孔質となりもろくなる。逆に含有量が少ないと,内部応力が高くなりきれつを生ずる。ほう素の含有量とめっき条件との関係について実験を行ない,浴温が高くなると直線的にほう素含有量は多くなり.逆にpHが高くなると含有量は低下した;写図4表4参2

シソーラス用語： ニッケルめっき ,  ほう素 ,  還元 ,  定量分析 ,  内部応力 ,  無電解めっき

タイトルに関連する用語 (2件)： 無電解ニッケルめっき ,  ほう素