文献
J-GLOBAL ID:201602021068773215   整理番号:65A0009371

レーザー光散乱によるθ-ピンチ中の電子温度と電子密度の測定

Messung der lokalen Elektronentemperatur und Elektronendichte in einem θ-Pinch mittels der Streuung eines Laserstrahls.
著者 (1件):
資料名:
巻: 20  号:ページ: 801-813  発行年: 1965年 
JST資料番号: E0440A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU) 
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
診断法としてのプラズマによる光散乱の発展を報告した。これによれば局所的な電子温度と電子密度の測定が可能である。今までに理論的に知られたことの報告のあと,散乱の実験の可能性を議論し,散乱光とプラズマ放射の比を見積った。ここでの実験装置ではファイバーオプティクスを用いて散乱光の全スペクトルを一回のピンチ放電で測定できる。得られたスペクトルのいくつかのタイプはプラズマ中の粒子間の相互作用で修正されている。スペクトル中には小さな中心線と共に衛線が表われている。スペクトルからはプラズマの種々のパラメータが得られる;写1図12参32
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る