抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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斜め入射の電界強度の測定によって電離層の非撰択性吸収を連続的に決定する方法について。パルス高アナライザで電界強度の頻度分布を測定することにより主伝送路の分離が可能とされている。又電離層の状態を周波数分布より知ることができ,更に夜間のEs層の平均反射係数も直ちに得られる。