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J-GLOBAL ID：201602021252831414   整理番号：70A0129005

イオンマイクロプローブ質量分析計に対する解析的方法II

Analytic methods for the ion microprobe mass analyzer. II.

著者 (1件)： ANDERSEN C A
資料名： Int J Mass Spectrom Ion P  (International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics)
巻： 3  号： 6  ページ： 413-428  発行年： 1970年 
JST資料番号： D0625A  ISSN： 0020-7381  CODEN： IJMIB   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高エネルギーの反応性の気体ビームを元素または化合物にぶつけたとき飛び出す正負イオンの収率を調べた。これは飛び出す原子の収率に関係し,Rolらの提出した簡単なモデルから計算できる。原子が飛び出すときのエネルギーのしきい値と表面での結合エネルギーの計算法を提案。正イオンの収率は表面での得やすさに逆比例し,電子陰性度の高い気体をぶつけた表面での結合を形成させると増加する。陰イオンの場合は逆である;写図10参21

シソーラス用語： 衝突
準シソーラス用語： イオンマイクロプロープ ,  高エネルギー気体ビーム ,  質量分折計 ,  質量分折計(イオンマイクロプロープ) ,  衝突(高エネルギー気体ビーム)

タイトルに関連する用語 (3件)： イオンマイクロプローブ ,  質量分析計 ,  解析