文献

J-GLOBAL ID：201602201715825239   整理番号：16A0172144

YBa₂Cu₃O_7-δ厚膜の臨界電流密度と磁束ピン止め力に及ぼすYBa₂HfO_5.5から派生する二次相の影響

Influence of YBa₂HfO_5.5 - ‘derived secondary phase’ on the critical current density and flux-Pinning force of YBa₂Cu₃O_7-δ thick films

著者 (3件)： REJITH Pullanhiyodan P. (Mar Ivanios Coll., Kerala, IND) ,  VIDYA Sukumariamma (Mar Ivanios Coll., Kerala, IND) ,  THOMAS Jijimon Kumbukkattu (Mar Ivanios Coll., Kerala, IND)
資料名： Cryogenics  (Cryogenics)
巻： 72  号： Pt.1  ページ： 1-8  発行年： 2015年12月 
JST資料番号： D0115B  ISSN： 0011-2275  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *臨界電流密度 ,  磁束ピン止め ,  *イットリウムバリウム銅酸化物 ,  ナノ粒子 ,  ペロブスカイト型結晶 ,  高温超伝導体 ,  厚膜
準シソーラス用語： 超伝導臨界電流密度 ,  *YBCO

分類 (1件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 厚膜 ,  臨界電流密度 ,  磁束ピン止め ,  二次相