文献
J-GLOBAL ID：201602202889201469   整理番号：13A1264631

A different approach for determining the responsivity of n+p detectors using scanning electron microscopy

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著者 (3件)：
Omeime Xerviar Esebament

Omeime Xerviar Esebament について

(Dep. of Information Technol. and Media, Mid Sweden Univ., Sweden, Sundsvall)

Dep. of Information Technol. and Media, Mid Sweden Univ., Sweden, Sundsvall について

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Gran Thungstrm

Gran Thungstrm について

(Dep. of Information Technol. and Media, Mid Sweden Univ., Sweden, Sundsvall)

Dep. of Information Technol. and Media, Mid Sweden Univ., Sweden, Sundsvall について

, 
Nilsson Hans Erik

Nilsson Hans Erik について

(Dep. of Information Technol. and Media, Mid Sweden Univ., Sweden, Sundsvall)

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資料名：
Journal of Semiconductors  (Journal of Semiconductors)

Journal of Semiconductors について


巻： 33  号： 7  ページ： 074002-1-074002-5  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2377A  ISSN： 1674-4926  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

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