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J-GLOBAL ID：201602205797214564   整理番号：16A0258554

FPGAとDACを用いた30MHz以下のEMI試験装置点検用対数目盛コムジェネレータの開発

Development of log-scale comb-generator for daily checking of EMI test system less than 30 MHz using FPGA and DAC

著者 (2件)： 飴谷充隆 (産業技術総合研) ,  黒川悟 (産業技術総合研)
資料名： 電気学会計測研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： IM-16  号： 1-16  ページ： 43-46  発行年： 2016年02月18日 
JST資料番号： Z0912A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *パルス発生器 ,  *FPGA ,  *DA変換器 ,  *電磁干渉 ,  *試験装置 ,  *点検 ,  *目盛 ,  出力 ,  周波数特性 ,  温度依存性 ,  *対数目盛
準シソーラス用語： *コムジェネレータ

分類 (1件)： 雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (7件)： FPGA ,  DAC ,  EMI ,  試験装置 ,  点検 ,  対数目盛 ,  開発