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J-GLOBAL ID:201602205926001971   整理番号:16A0188854

シリコン基板上の0.06PMnN-0.94PZT(45/55)薄膜の強誘電性,圧電気,誘電性

Ferroelectricity, Piezoelectricity, and Dielectricity of 0.06PMnN-0.94PZT(45/55) Thin Film on Silicon Substrate
著者 (10件):
資料名:
巻: 2015  ページ: 864591 (WEB ONLY)  発行年: 2015年 
JST資料番号: U7011A  ISSN: 1687-4110  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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高圧電気/高Q値強誘電性薄膜は,電気機械応用,特にマイクロ電気機械システム(MEMS)用に重要である。本研究では,MnとNbドーピングがPZT特性を向上することを念頭に,RFマグネトロンスパッタリングによって,三元系化合物強誘電性薄膜0.06Pb(Mn1/3,Nb2/3)O3+0.94Pb(Zr0.45,Ti0.55)O3(0.06PMnN-0.94PZT(45/55))をシリコン(100)基板上に蒸着した。比較用に,非ドーピングPZT(45/55)薄膜も蒸着した。両薄膜は,(111)と(101)主配列の多結晶構造を示した。横圧電係数は,それぞれe31,eff=-4.03,-3.5C/m2を示した。これらの薄膜は,それぞれ抗電場強度2Ec=147.31,135.44kV/cm,飽和分極Ps=30.86,17.74μC/cm2,レムナント分極Pr=20.44,9.87μC/cm2を有し,古典的強誘電性を示した。さらに,それぞれ,誘電率と誘電損失が,εr=681,537,D=5,4.3%であった。結論として,0.06PMnN-0.94PZT(45/55)薄膜は,誘電率が高いが,非ドーピング薄膜より良好に動作した。本ドーピング薄膜の優れた強誘電性,圧電気,高パワー/エネルギー貯蔵特性,特に容易な製造,集積実現性,高いQ値は,この種の薄膜の実際の応用を可能にする。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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酸化物薄膜  ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性 
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