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J-GLOBAL ID：201602206298911994   整理番号：16A0189024

ナノ構造イットリア安定化ジルコニア薄膜の高いイオン伝導率の解明

Understanding the High Ionic Conductivity in Nanostructured Ytterbium Stabilized Zirconia Thin Films

著者 (5件)： BENITEZ-RICO A. (Universidad Nacional Autonoma de Mexico, Mexico, MEX) ,  GARCIA-SANCHEZ M. F. (Instituto Politecnico Nacional, Mexico, MEX) ,  PICQUART M. (Universidad Autonoma Metropolitana, Mexico, MEX) ,  MONROY-PELAEZ B. M. (Universidad Nacional Autonoma de Mexico, Mexico, MEX) ,  SANTANA-RODRIGUEZ G. (Universidad Nacional Autonoma de Mexico, Mexico, MEX)
資料名： Journal of Nanomaterials (Web)  (Journal of Nanomaterials (Web))
巻： 2015  ページ： 692648 (WEB ONLY)  発行年： 2015年 
JST資料番号： U7011A  ISSN： 1687-4110  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近,ナノ構造材料中の高いイオン伝導が報告されている。電気伝導率の増加は微小固体酸化物燃料電池などの技術応用にとって重要であり,従ってこの現象の解明が不可欠である。本研究では,X線回折,Raman分光法,SEM,EDSマップ,紫外可視分光測定を用いて,超音波噴霧熱分解で作製したナノ構造イットリア安定化ジルコニア(YbSZ)薄膜の構造と電気的性質の関係を調べた。Raman測定から4%のYbドーピングで正方晶相と立方晶相の混合を同定した。これはX線回折では検出できない。組成マップはYbが結晶粒界を優先的に占め得ることを示唆した。バルク及び結晶粒界における活性化エネルギー値の変化は小結晶粒界(≦10nm)に関係した。UV測定は電荷輸送のイオン性を支持した。これらの結果は高電気伝導率が材料中の応力,種々の結晶相,結晶粒界への不純物拡散,電子伝導の存在/不在などの膜の様々な物理パラメータの帰結でることを示唆した。ナノ構造材料中の電気伝導率増加を説明するモデルはこれらの全ての側面を含む必要がある。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： ナノ構造 ,  *セラミック ,  *酸化イットリウム ,  *酸化ジルコニウム ,  薄膜 ,  *イオン伝導 ,  電気伝導率 ,  電子顕微鏡観察 ,  X線回折 ,  Ramanスペクトル ,  エネルギー分散蛍光X線分析 ,  スペクトロスコピー ,  紫外可視吸収スペクトル ,  イッテルビウム ,  ドーピング ,  電気伝導
準シソーラス用語： *イットリア安定化ジルコニア ,  イオン伝導率 ,  紫外可視分光法 ,  電子伝導

分類 (1件)： 混合伝導  (BM03060U)

タイトルに関連する用語 (4件)： ナノ構造 ,  イットリア安定化ジルコニア ,  薄膜 ,  イオン伝導率