LU Yufeng について
Bradley Univ., IL について
SANIIE Jafar について
Illinois Inst. Technol., IL について
IEEE International Ultrasonics Symposium について
パラメータ推定 について
超音波診断 について
音波反射 について
モデル について
分解 について
シミュレーション について
ベンチマーク について
データ解析 について
故障検出 について
欠陥検査 について
パターン認識 について
特性 について
モデリング について
時間測定 について
推定 について
超音波エコー について
信号モデル について
信号分解 について
欠陥検出 について
材料特性 について
到来時間推定 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
非破壊試験 について
超音波 について
NDE について
応用 について
欠陥 について
特性化 について
モデルベース について
パラメータ推定 について