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J-GLOBAL ID：201602207384308202   整理番号：16A0019160

微摺動機構使用による電気接点の劣化現象ーいくつかの条件下での最小摺動振幅に関係した入力波形による比較ー

Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism-The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions-

著者 (3件)： WADA Shin-ichi (TMC System Co. Ltd., Kawasaki, JPN) ,  KOSHIDA Keiji (TMC System Co. Ltd., Kawasaki, JPN) ,  SAWA Koichiro (Nippon Inst. Technol., Saitama, JPN)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 115  号： 291(EMD2015 67-81)  ページ： 17-21  発行年： 2015年10月29日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *滑り接触 ,  *劣化 ,  *電気接点 ,  滑り ,  機構 ,  アクチュエータ ,  弾性 ,  ヒンジ ,  *入力 ,  *波形
準シソーラス用語： ピエゾ・アクチュエータ ,  摺動

分類 (1件)： 電気接点  (NA05070V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 摺動機構 ,  電気接点 ,  現象 ,  摺動 ,  振幅 ,  波形