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J-GLOBAL ID：201602207609254913   整理番号：15A1250083

高分解能走査電子顕微鏡の原理と応用【Powered by NICT】

The principle and applications of high-resolution scanning electron microscopy

著者 (3件)： Jia Zhihong (Coll. of Materials Sci. and Engineering,Chongqing Univ., Chongqing) ,  Ding Lipeng (Coll. of Materials Sci. and Engineering,Chongqing Univ., Chongqing) ,  Chen Houwen (Coll. of Materials Sci. and Engineering,Chongqing Univ., Chongqing)
資料名： Wuli  (Wuli)
巻： 44  号： 7  ページ： 446-452  発行年： 2015年 
JST資料番号： E0473A  ISSN： 0379-4148  CODEN： WULIA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 走査型透過電子顕微鏡(STEM)は,現在,顕微鏡イメージングのための最も広く使用されている方法の一つであり,改善された分解能,高い組成感受性,および直接的に解釈可能な像の利点に起因した。高分解能STEMは,直接原子分解能Zコントラスト画像を得て,X線エネルギー分散分光法(EDS)と電子エネルギー損失分光法(EELS)と組み合わせたサブ-オングストロームスケールでの材料の原子構造と電子構造を解析することができる。STEMの基本的概念と応用を簡単に紹介し,高角度環状暗視野および環状明視野イメージングの原理,特徴および応用について述べた。EDSとEELSの特性と応用についても簡単に述べた。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 画像処理 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子エネルギー損失分光法 ,  *分解能 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  原子構造 ,  感受性 ,  *顕微鏡 ,  電子構造 ,  コントラスト ,  *高分解能
準シソーラス用語： 明視野 ,  暗視野 ,  エネルギー分散分光法 ,  原子分解能 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  写真機とその付属品  (QF05030V) ,  電子ビーム・イオンビームの応用  (BD02070X) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高分解能 ,  走査電子顕微鏡 ,  原理 ,  応用