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J-GLOBAL ID：201602209417061901   整理番号：16A0043752

X線回折法による少量サンプルの定性分析

Qualitative Analysis for Various Types of Small Samples by X-ray Diffractometry

著者 (3件)： 大毛信吾 (小山工高専) ,  渥美太郎 (小山工高専) ,  出川強志 (小山工高専)
資料名： 小山工業高等専門学校研究紀要  (Research Reports of Oyama National College of Technology)
号： 48  ページ： 129-134  発行年： 2015年12月21日 
JST資料番号： S0863A  ISSN： 0288-2825  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 高感度,高速測定が可能な半導体一次元検出器と無反射試料板を用いて少量サンプルの定性分析を試みた。性状の異なる3種類の化粧品の定性分析を行った。少量のサンプルでも高いP/B比の回折パターンが得られた。粉末状,ペースト状,リキッド状サンプルにそれぞれ含まれるおもな無機成分を同定することはできたが,ペースト状とリキッド状サンプルでは,含有される高分子成分によって低角側のバックグランドが増加するため,強度の小さいピークの検出が困難である。

シソーラス用語： *X線回折 ,  試料台 ,  *微量分析 ,  *定性分析 ,  半導体検出器 ,  化粧品 ,  ペースト ,  液体

分類 (1件)： その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (3件)： X線回折法 ,  サンプル ,  定性分析