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J-GLOBAL ID：201602210077904941   整理番号：16A0545227

ASDFを搭載したCurved Field ReflectronによるN末端修飾de novoシーケンシング

N-terminal charge-driven de novo sequencing by using ASDF-incorporated Curved Field Reflectron.

著者 (5件)： YAMAZAKI Y. (Shimadzu Corp.) ,  SHIMA K. (Shimadzu Corp.) ,  KITANAKA A. (Kyoto Univ.) ,  MIYASHITA M. (Kyoto Univ.) ,  MIYAGAWA H. (Kyoto Univ.)
資料名： 質量分析総合討論会講演要旨集  (Book of Abstracts. Annual Conference on Mass Spectrometry)
巻： 63rd  ページ： 162  発行年： 2015年06月08日 
JST資料番号： L1264A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： プロトン親和力 ,  *配列 ,  *末端基 ,  MALDI-TOF MS ,  衝突誘起解離 ,  誘導体化 ,  *焦点 ,  *空間分布 ,  *質量分析 ,  飛行時間法
準シソーラス用語： *N末端 ,  *軸空間分布焦点 ,  *曲線場レフレクトロン ,  ASDF

分類 (1件)： 質量分析計  (BD02060M)

タイトルに関連する用語 (2件)： N末端 ,  修飾