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J-GLOBAL ID:201602210994726724   整理番号:16A0209735

時間分解軟X線光電子分光法: 半導体表面における光励起キャリアの実時間観測

Time-Resolved Soft X-ray Photoelectron Spectroscopy: Real-Time Observation of Photo-Excited Carriers at Semiconductor Surfaces
著者 (2件):
資料名:
巻: 37  号:ページ: 9-13 (J-STAGE)  発行年: 2016年 
JST資料番号: F0940B  ISSN: 0388-5321  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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東京大学アウトステーションSPring-8 BL07LSUで開発した時間分解軟X線光電子分光システムにおける実験技術を解説し,このシステムを利用した研究例として光触媒材料として重要な酸化物半導体表面における光励起キャリア寿命の研究を紹介する。放射光は約50ピコ(10~12)秒の時間幅を持ったパルス光で,このパルス特性を活かしたピコ秒時間分解軟X線光電子分光実験では相転移や表面化学反応などの動的過程における電子・スピン・化学状態を実時間で観測できる。TiO2結晶表面における光励起キャリアの寿命を評価し,キャリア寿命がルチル型とアナターゼ型の結晶構造の変化を検証した。アナターゼ型TiO2がルチル型TiO2より高い光触媒活性を示す原因が表面キャリア寿命で説明できることを示した。本手法は無機材料だけでなく,有機薄膜太陽電池におけるドナー・アクセプター界面などの有機材料にも適用が期待できる。
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分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
電子分光スペクトル  ,  塩基,金属酸化物  ,  分析機器 
引用文献 (10件):
  • 1) S. Yamamoto and I. Matsuda: J. Phys. Soc. Jpn. 82, 021003 (2013).
  • 2) 山本 達,松田 巌: 日本放射光学会誌「放射光」 27, 241 (2014).
  • 3) M. Ogawa, S. Yamamoto, Y. Kousa, F. Nakamura, R. Yukawa, A. Fukushima, A. Harasawa, H. Kondoh, Y. Tanaka, A. Kakizaki and I. Matsuda: Rev. Sci. Instrum. 83, 023109 (2012).
  • 4) S. Yamamoto, Y. Senba, T. Tanaka, H. Ohashi, T. Hirono, H. Kimura, M. Fujisawa, J. Miyawaki, A. Harasawa, T. Seike, S. Takahashi, N. Nariyama, T. Matsushita, M. Takeuchi, T. Ohata, Y. Furukawa, K. Takeshita, S. Goto, Y. Harada, S. Shin, H. Kitamura, A. Kakizaki, M. Oshima and I. Matsuda: J. Synchrot. Radiat. 21, 352 (2014).
  • 5) R. Ovsyannikov, P. Karlsson, M. Lundqvist, C. Lupulescu, W. Eberhardt, A. Föhlisch, S. Svensson and N. Mårtensson: J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 191, 92 (2013).
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