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J-GLOBAL ID：201602211919055979   整理番号：16A1004099

基板実装したMOSFETのソース寄生インダクタンスの測定法

著者 (3件)： 相川恭汰 (岡山大) ,  梅谷和弘 (岡山大) ,  平木英治 (岡山大)
資料名： 電気学会産業応用部門大会(CD-ROM)  (Proceedings of the IEE Japan Industry Applications Society Conference (CD-ROM))
巻： 2016  ページ： ROMBUNNO.1-62  発行年： 2016年 
JST資料番号： L2177B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *MOSFET ,  *インダクタンス ,  ソース【半導体】 ,  雑音 ,  HEMT ,  電力トランジスタ ,  電場 ,  *計測 ,  実装 ,  電流 ,  ターンオン電界 ,  *寄生インダクタンス
準シソーラス用語： GaN HEMT ,  スイッチングノイズ ,  ドレイン電流 ,  回路実装 ,  *測定法

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  雑音一般  (ND04010J)

タイトルに関連する用語 (5件)： 実装 ,  MOSFET ,  ソース ,  寄生インダクタンス ,  測定法