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J-GLOBAL ID:201602214832374293   整理番号:16A0276756

超高圧電子顕微鏡を用いた電子らせん波の生成

著者 (3件):
資料名:
号: 25  ページ: 66-69  発行年: 2015年03月04日 
JST資料番号: X0925A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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加速電圧200kV透過型電子顕微鏡,加速電圧1000kVの超高圧電子顕微鏡を用いて電子らせん波を生成し,入射電子線の波長と生成される電子らせん波のビーム径との関係を調べた。波動伝搬シミュレーションを行い,その波長とビーム径との関係を実験結果と比較した。電子らせん波のビーム径は加速電圧の大きさに依存し,その大きさは入射電子線の波長の大きさに比例した。加速電圧200kVの方が加速電圧1000kVより干渉性がよく,シミュレーションに近い結果となった。
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分類 (1件):
分類
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電子ビーム,イオンビーム 
タイトルに関連する用語 (2件):
タイトルに関連する用語
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