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J-GLOBAL ID：201602215241685105   整理番号：16A0027291

周辺電子の分布とゆらぎを測定する高速熱ヘリウムビーム診断

Fast Thermal Helium Beam diagnostic for measurements of edge electron profiles and fluctuations

著者 (8件)： AGOSTINI M. (Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Universita di Padova, Acciaierie Venete SpA), C.so Stati Uniti 4, 35127 Padova, ITA) ,  SCARIN P. (Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Universita di Padova, Acciaierie Venete SpA), C.so Stati Uniti 4, 35127 Padova, ITA) ,  CAVAZZANA R. (Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Universita di Padova, Acciaierie Venete SpA), C.so Stati Uniti 4, 35127 Padova, ITA) ,  CARRARO L. (Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Universita di Padova, Acciaierie Venete SpA), C.so Stati Uniti 4, 35127 Padova, ITA) ,  GRANDO L. (Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Universita di Padova, Acciaierie Venete SpA), C.so Stati Uniti 4, 35127 Padova, ITA) ,  TALIERCIO C. (Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Universita di Padova, Acciaierie Venete SpA), C.so Stati Uniti 4, 35127 Padova, ITA) ,  FRANCHIN L. (Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Universita di Padova, Acciaierie Venete SpA), C.so Stati Uniti 4, 35127 Padova, ITA) ,  TISO A. (Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Universita di Padova, Acciaierie Venete SpA), C.so Stati Uniti 4, 35127 Padova, ITA)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 86  号： 12  ページ： 123513-123513-9  発行年： 2015年12月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 融合実験の周辺は,乱流が原因となった強いゆらぎが存在すると共に強い勾配が発達する領域である。RFXモード実験用に開発された熱ヘリウムビーム診断によって,電子密度と電子温度の周辺動径分布の低周波(数十ヘルツ)時間発展と高周波ゆらぎ(数百kHz)両方の単一診断による測定が可能となる。収集した光を最大化するため,n_e とT_eを評価するため測定する必要がある3本のHeI線はスペクトログラフにより分離し,光検出器には多重節の光電子増倍管を使った。本論文では,マシンや光学レイアウトとのインタフェイスハードウェアによる診断配置とその性能の特性評価について記述を行う。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *周辺プラズマ ,  *プラズマ診断 ,  核融合 ,  乱流 ,  *ヘリウム ,  電子密度 ,  電子温度 ,  動径分布関数 ,  分光写真器 ,  光電子増倍管
準シソーラス用語： スペクトログラフ ,  高周波ゆらぎ ,  粒子ビーム診断

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (6件)： 周辺 ,  電子 ,  分布 ,  ゆらぎ ,  ヘリウム ,  ビーム診断