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J-GLOBAL ID：201602215640839760   整理番号：16A0137285

S-SETA: アサーションを用いた選択的ソフトウェア単独誤り検出法

S-SETA: Selective Software-Only Error-Detection Technique Using Assertions

著者 (7件)： CHIELLE Eduardo (UFRGS, Porto Alegre, BRA) ,  RODRIGUEZ Gennaro S. (UFRGS, Porto Alegre, BRA) ,  KASTENSMIDT Fernanda L. (UFRGS, Porto Alegre, BRA) ,  CUENCA-ASENSI Sergio (Univ. Alicante, Alicante, ESP) ,  TAMBARA Lucas A. (UFRGS, Porto Alegre, BRA) ,  RECH Paolo (UFRGS, Porto Alegre, BRA) ,  QUINN Heather (Los Alamos National Lab., NM, USA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 62  号： 6,Pt.1  ページ： 3088-3095  発行年： 2015年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 集積回路が細密になるにつれ,放射線効果が重要な問題になってきた。ソフトウェアに基づいてシステムの信頼度を高める方法は安価であるが,性能を低下させコードサイズを大きくする。この問題を解決するために,プログラムフローに影響する誤りを検出するためのアサーションを用いた新しい制御フローソフトウェア単独技術「SETA」を提唱した。SETAはデータフロー法と共に用いるように設計した低オーバヘッドのアサーションを用いて制御フローの誤りを検出する。また,SETAに選択的硬化法を実装した柔軟性の高いS-SETAを開発した。

シソーラス用語： *誤り検出 ,  流れ図 ,  フォールトトレランス ,  信頼度 ,  劣化 ,  *ソフトエラー ,  半導体集積回路 ,  *耐放射線性 ,  演算プロセッサ
準シソーラス用語： プロセッサ ,  制御フロー ,  性能低下

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： アサーション ,  ソフトウェア ,  誤り検出