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J-GLOBAL ID：201602215819702482   整理番号：16A0714820

自己組織化単分子膜(SAM)を利用した低環境負荷型表面修飾剤の開発

著者 (5件)： 三枝栄子 (日本曹達) ,  山手太軌 (日本曹達) ,  熊澤和久 (日本曹達) ,  鈴木啓之 (日本曹達) ,  長谷川健 (京大 化研)
資料名： 日本化学会春季年会講演予稿集(CD-ROM)
巻： 96th  ページ： ROMBUNNO.1PC-018  発行年： 2016年03月10日 
JST資料番号： S0493B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 我々は,自己組織化単分子膜(SAM)を利用した表面修飾剤「SAMLAY」を開発している。SAMLAYは,固体表面に高結晶性単分子膜を形成することができ,撥水撥油性を両立させることができる。また,有機フッ素化合物を含有しないため,低コスト,低環境負荷型の液状表面処理剤として様々な工業的応用が期待される。今回,撥水撥油性メカニズム解明の一環として,シリコン基板上へのSAM膜形成過程を高速AFMにより追跡,直接観測することに成功した。(著者抄録)

シソーラス用語： *単分子層 ,  *自己組織化 ,  *環境影響 ,  *表面改質 ,  結晶度 ,  撥水 ,  性質 ,  油 ,  界面張力 ,  有機フッ素化合物 ,  表面処理 ,  ウエハ【IC】 ,  原子間力顕微鏡 ,  *環境負荷 ,  単分子膜 ,  *自己集合単分子膜 ,  シリコンウエハ
準シソーラス用語： *自己組織化単分子膜 ,  *SAM【単分子層】 ,  *表面修飾 ,  結晶性 ,  撥油性 ,  シリコン基板 ,  AFM【顕微鏡】

分類 (2件)： 分子の性質一般  (BH05031D) ,  半導体の表面構造  (BK15030A)

タイトルに関連する用語 (5件)： 自己組織化単分子膜 ,  SAM ,  環境負荷 ,  表面修飾 ,  開発