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J-GLOBAL ID：201602216129314230   整理番号：16A0143508

集積回路におけるソフトエラーの評価と対策

Evaluation of Radiation-induced Soft Errors on LSI

著者 (1件)： 古田潤 (京都工繊大)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 115  号： 373(ICD2015 63-95)  ページ： 87-92  発行年： 2015年12月10日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： トランジスタの微細化に伴い,放射線起因の一過性エラーであるソフトエラーがLSIの信頼性において問題となっている。本稿では65nmプロセスを用いて設計したテスト回路について説明し,中性子照射による加速試験を用いてソフトエラーの特性を測定した結果について報告する。次に特性評価結果を基にしたソフトエラーに耐性を持つフリップフロップの構造や,レイアウトの方法について提案する。提案するフリップフロップ構造のソフトエラー耐性を実測し,通常のフリップフロップよりも100倍以上耐性が高いことを確認した。(著者抄録)

シソーラス用語： *ソフトエラー ,  *半導体集積回路 ,  双安定回路 ,  *耐放射線性 ,  現象 ,  誤り率 ,  過渡現象 ,  中性子照射 ,  回路
準シソーラス用語： マルチセルアップセット ,  ソフトエラー率 ,  *シングルイベント効果 ,  シングルイベント過渡現象 ,  BISER回路 ,  BCDMR回路

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 集積回路 ,  ソフトエラー ,  評価 ,  対策