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J-GLOBAL ID：201602217191183016   整理番号：16A0490647

光コムによる絶対距離測定と三次元計測技術

著者 (2件)： 高増潔 (東大 大学院工学系研究科) ,  SUDATHAM Wiroj (東大 大学院工学系研究科)
資料名： 光技術コンタクト  (Optical and Electro-Optical Engineering Contact)
巻： 54  号： 5  ページ： 18-24  発行年： 2016年05月20日 
JST資料番号： S0624A  ISSN： 0913-7289  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 三次元空間内の絶対距離測定法として,光コムを利用した方法および三次元測定機の検査への応用について解説した。光コム(光周波数コム)による長さの定義を述べ,光コムの光パルス干渉による絶対距離測定法の原理を説明した。エタロンによる光パルス間隔の短縮法を示した。三次元測定機の測定精度評価法では,三次元測定機の受入検査法や精度評価用パルス干渉計を説明した。三次元測定機の精度評価実験を述べ,ステップゲージによる精度評価と光コムによる精度評価を比較した。光コムは,長さ測定の校正では,最も有力なツールとなる。

シソーラス用語： 受入検査 ,  干渉計 ,  長さ測定 ,  校正 ,  光干渉 ,  *三次元測定 ,  *距離測定 ,  *絶対測定 ,  周波数 ,  光学的測定 ,  空間 ,  三次元 ,  *計測器 ,  エタロン ,  光パルス ,  測定精度
準シソーラス用語： 光コム ,  光周波数コム ,  三次元空間 ,  *三次元測定器

分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

引用文献 (11件)：

• 長さの定義:産業技術総合研究所計測標準センターホームページ https://www.nmij.jp/library/units/length/
• 「長さの国家標準」が新方式に-光周波数コム装置を利用し「波長」を高精度化-:産業技術総合研究所ホームページ http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2009/pr20090716/pr20090716.html
• 稲葉肇,大苗敦,中嶋善晶,洪鋒雷,“光周波数コムと長さ特定標準器”,計測標準と計量管理 Measurement standards and metrology management 59, 2-8 (2009)
• Hirokazu Matsumoto, Xiaonan Wang, Kiyoshi Takamasu, Tomohiro Aoto: Absolute Measurement of Baselines up to 403 m Using Heterodyne Temporal Coherence Interferometer with Optical Frequency Comb, Applied Physics Express, 5, 046601, 2012, 1-3
• 松本弘一:光周波数コムと干渉計測,オプトロニクス29,8,98-101(2010).

タイトルに関連する用語 (3件)： 光コム ,  距離測定 ,  計測技術