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J-GLOBAL ID：201602217672466276   整理番号：16A0187021

スペックル参照ー非散漫散乱表面のイメージングためのディジタルスペックルパターン干渉計測(SR-DSPI)

SPECKLE REFERENCING-Digital Speckle Pattern Interferometry (SR-DSPI) for Imaging of Non-Diffusive Surfaces

著者 (4件)： SONG Chaolong (Nanyang Technological Univ., Singapore) ,  MATHAM Murukeshan V. (Nanyang Technological Univ., Singapore) ,  CHAN Kelvin H. K. (Nanyang Technological Univ., Singapore) ,  CHAN Kelvin H. K. (Rolls-Royce Singapore, Singapore)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 9524  ページ： 95242P.1-95242P.6  発行年： 2015年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ディジタルスペックルパターン干渉計測は最近多用される迅速,精密な光学計測手段の一つであるが,特に表面の変形,振動やプロフィルの測定に適している。この方式にとっての課題の一つが非散漫散乱表面の処理でスペックルパターンができない。対策として干渉用の光路の一方(参照)側でコヒーレント光で粗い表面からの反射光を取り,これと試験ビームの干渉を取った。一様なスペックルパターンが現れ,これの外力による移動から三次元物体の変形を測れる。

シソーラス用語： *スペックル ,  *散漫散乱 ,  画像処理 ,  変形 ,  *スペックル干渉法 ,  表面
準シソーラス用語： イメージング ,  光路 ,  *ディジタルスペックルパターン干渉法 ,  表面変形

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (8件)： スペックル ,  参照 ,  散漫散乱 ,  イメージング ,  ディジタル ,  スペックルパターン ,  干渉計測 ,  Sr