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J-GLOBAL ID：201602219219652347   整理番号：16A1358592

多層スペクトロメータを用いたアンジュレータ放射によるシリカベースの薄膜中の屈折率改良

Refractive-index modifications in Silica-Based Films by Undurator Radiation with a multilayer spectrometer

著者 (4件)： MORIWAKI K. (Kobe Univ.) ,  KIMURA G. (Kobe Univ.) ,  KANDA K. (Kobe Univ.) ,  MATSUI S. (Univ. Hyogo)
資料名： LASTI Annual Report  (LASTI Annual Report)
巻： 17  ページ： 55-56  発行年： 2016年09月 
JST資料番号： L4711A  ISSN： 2189-6909  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： NewSUBARU(BL7A)によるアンジュレータ放射(UR)を,導波路のような光学素子の応用のためのシリカベースの薄膜の改質に用いた。試料として用いた多層スペクトロメータの有る場合と無い場合のURと観測した効果を比較した。スペクトロメータ無しでは,改質層は浅く強いもの及び比較的深く中程度のものの2つの部分に分離する。表面から厚さが5mm以下の薄膜は,URエネルギーに依存して強い変形と10^-2程度の高い屈折率変化を示す。スペクトロメータがある場合は,UR照射後に比較的深く中程度に改質した層が観測されるが,表面変形層は認められない。スペクトロメータがある場合と無い場合に照射された試料間の差異は,照射強度あるいは試料温度の効果により生じている可能性がある。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *シンクロトロン放射 ,  多層膜 ,  薄膜 ,  *屈折率 ,  *二酸化ケイ素 ,  放射光施設 ,  *X線スペクトロメータ ,  *アンジュレータ放射 ,  NewSUBARU
準シソーラス用語： シリカ ,  軟X線照射

分類 (2件)： その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 多層 ,  スペクトロメータ ,  アンジュレータ放射 ,  シリカ ,  薄膜 ,  屈折率