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J-GLOBAL ID:201602221484732103   整理番号:16A0931257

容量性脱イオン技術における抵抗同定と合理的なプロセス設計

Resistance identification and rational process design in Capacitive Deionization
著者 (7件):
資料名:
巻: 88  ページ: 358-370  発行年: 2016年01月01日 
JST資料番号: B0760A  ISSN: 0043-1354  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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容量性脱イオン技術(CDI)は,多孔性炭素電極を採用した水淡水化のための電気化学的方法である。CDIの性能を高めるためには,CDIセル中の電子及びイオン抵抗の同定が重要である。本研究で,これらの抵抗を同定する方法を概記した。膜を用いたCDIセル(MCDI)中での抵抗を計算し,セル設計を改善する知見を使用することによって手法を表現した。抵抗を同定するために,本格的なMCDIモデルを導いた。このモデルは,実験データに対して検証され,MCDIセル全体でのイオン抵抗を計算するために使用された。CDIセルでの電子抵抗を測定する新規手法を提示し,同様に,MCDIセルの組み立て後におけるスペーサーチャネルの厚さと多孔度も提示した。20mMの流入塩濃度に対し,抵抗は,主としてスペーサーチャネル及び外部電気回路に存在し,電極には存在しないことを同定した。この知見に基づいて,除去された塩1モル当たりのエネルギー消費を有意に増加させること無く炭素電極の厚さを増加させることができ,淡水化時間を大幅に延長できる利点を有することを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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用水の化学的処理 
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