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J-GLOBAL ID：201602223447721237   整理番号：16A0661509

In situシンクロトロンX線粉末回折を用いたNASICON型Li_1+xAl_xGe_2-x(PO₄)₃の構造展開

Structural evolution of NASICON-type Li_1+xAl_xGe_2-x(PO₄)₃ using in situ synchrotron X-ray powder diffraction

著者 (5件)： Safanama Dorsasadat (National University of Singapore, Department of Materials Science and Engineering, Singapore 17579, Singapore. [e-mail]) ,  Sharma Neeraj ,  Rao Rayavarapu Prasada ,  Brand Helen E. A. ,  Adams Stefan
資料名： Journal of Materials Chemistry A. Materials for Energy and Sustainability  (Journal of Materials Chemistry A. Materials for Energy and Sustainability)
巻： 4  号： 20  ページ： 7718-7726  発行年： 2016年05月28日 
JST資料番号： W0204B  ISSN： 2050-7488  CODEN： JMCAET  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高速リチウムイオン導電性Li_1+xAl_xGe_2-x(PO₄)₃セラミックまたはLAGPセラミックが新しい次世代リチウム-空気電池のアノード保護膜として最も一般的に用いられる。この固体膜(電解質)の電気化学的性質は,様々なアニーリング条件に関する合成入力によって変動する,この膜構造中に取込んだアルミニウムの相純度と実質量に大きく依存する。望ましい相の実現がアニーリング温度の最適化が極めて重要であり,その結果,最適な電気化学的性質を最適化する。LAGPの合成間でin situシンクロトロンX線回折測定を行った。ボールミル粉砕後焼成したLAGPガラス粉末を出発材料とし,著者らは,ガラスからセラミックへの転移における構造進化を観測した。逐次Rietveld解析は,800°C以上の温度で主成分のアルミニウムが不足したLGPがアルミニウムを取込んだLAGP構造に相転移することを示した。格子定数のcが温度と構造に取込むアルミニウムの量に強く依存することが分かった。LAGPの格子定数のcとアルミニウム濃度の関係を評価し,この相関がアルミニウムのドーピング推定を可能にした。このように,本研究は格子定数をドーパント濃度の「指紋」にすることを可能にした。Copyright 2016 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST

シソーラス用語： *X線回折 ,  *リチウム化合物 ,  アルミニウム化合物 ,  ゲルマニウム化合物 ,  リン酸塩 ,  結晶構造 ,  機能性セラミック ,  *焼なまし ,  摩砕 ,  相転移 ,  保護膜 ,  Rietveld法 ,  格子定数 ,  ドーピング ,  リチウム二次電池 ,  空気電池 ,  *アルミニウム
準シソーラス用語： 導電性セラミック ,  アニーリング ,  ボールミル粉砕 ,  リチウム-空気電池 ,  シンクロトロンX線回折

分類 (2件)： 二次電池  (YB04030K) ,  その他の無機化合物の結晶構造  (BK07030J)

タイトルに関連する用語 (4件)： シンクロトロン ,  X線粉末回折 ,  NASICON ,  構造展開