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J-GLOBAL ID：201602229214756050   整理番号：16A0325181

ガス絶縁開閉装置のケーブル端末における絶縁シリコーン油の劣化に関する実験的研究【Powered by NICT】

Experimental Research on Ageing of Insulation Silicone Oil in Cable Terminal of Gas Insulated Switchgear

著者 (3件)： Zhang Ruobing (Graduate School at Shenzhen, Tsinghua Univ., Shenzhen) ,  Xin Hongshuai (Graduate School at Shenzhen, Tsinghua Univ., Shenzhen) ,  Guo Guohua (Graduate School at Shenzhen, Tsinghua Univ., Shenzhen)
資料名： Gaodianya Jishu  (Gaodianya Jishu)
巻： 41  号： 11  ページ： 3746-3752  発行年： 2015年 
JST資料番号： C2121A  ISSN： 1003-6520  CODEN： GAJIE5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 高電圧ケーブルのガス絶縁開閉装置(GIS)末端における絶縁シリコン油は長時間作業,最終的に全体的な断熱性能を劣化させるが徐々に劣化する。シリコーン油の劣化状態を評価するために,まず,著者らは,シリコーン油の電気特性に及ぼす熱老化の影響を研究し,続いて著者らは,シリコーン油は異なる形態の放電が針-平面電極システムを作成した。絶縁破壊電圧,誘電損失角の正接,体積抵抗率,及びMALDI-TOF質量分光分析のような電気的パラメータの変化を通して,著者らは,シリコーン油の熟成状態を決定できた。最後に,これらの全ての結果を分析したところ,著者らは,シリコーン油の電気特性に及ぼす熱老化の影響は非常に遅いことを見出し,次に,シリコーン油の熟成状態の予備的評価基準を提示した:破壊電圧U≧40kVのときは,誘電損失角tanδ≦0.6%,体積抵抗率(ρ≧5×10~(12)Ωm,および質量スペクトル分析の正接は明らかに低分子量シロキサン形成であることを示し,その後,シリコーン油は穏やかな時効条件ではない;破壊電圧U=30~35kVの場合,誘電損失角tanδ=1%~1.5%,体積抵抗率ρ=10~(11)~10~(12)Ωm,および質量スペクトル分析の正接は分子量1400~2400の範囲で,安定な間隔の吸収ピークが生じ,その後,シリコーン油は中程度の時効条件にあることを示し;破壊電圧U≦25kVのときは,誘電損失角tanδ≧5%,体積抵抗率(ρ≦10~(10)Ωm,質量スペクトル分析の正接は分子量吸収の550~750以下の範囲で安定な間隔のピークが生じ,その後,シリコーン油は重篤な時効条件であることを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 損失正接 ,  分子量 ,  電気特性 ,  誘電損失 ,  高電圧 ,  熟成 ,  *電気絶縁 ,  ケイ素 ,  *GIS【スイッチ】 ,  評価基準 ,  *シリコーン油 ,  ケーブル
準シソーラス用語： 体積抵抗率 ,  絶縁破壊電圧 ,  実験研究 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 絶縁材料  (NA04030W) ,  各種石油製品及びその製造一般  (YF02071R)

タイトルに関連する用語 (5件)： ガス絶縁開閉装置 ,  ケーブル ,  絶縁 ,  シリコーン油 ,  実験的研究