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J-GLOBAL ID：201602232994989671   整理番号：13A1254001

An empirical formula for yield estimation from singly truncated performance data of qualified semiconductor devices

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著者 (2件)：
Liang Tao

Liang Tao について

(School of Microelectronics, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap Semiconductor Materials ...)

School of Microelectronics, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap Semiconductor Materials ... について

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Jia Xinzhang

Jia Xinzhang について

(School of Microelectronics, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap Semiconductor Materials ...)

School of Microelectronics, Xidian Univ. Key Lab. of Ministry of Education for Wide Band-Gap Semiconductor Materials ... について


資料名：
Journal of Semiconductors  (Journal of Semiconductors)

Journal of Semiconductors について


巻： 33  号： 12  ページ： 125008-1-125008-7  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2377A  ISSN： 1674-4926  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

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