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J-GLOBAL ID：201602235451893175   整理番号：16A1365730

ソフトウェアメトリクス測定値を用いた品質改善効率低迷状態検出

著者 (9件)： 細野将揮 (早稲田大 基幹理工) ,  本田澄 (早稲田大 基幹理工) ,  鷲崎弘宜 (早稲田大 基幹理工) ,  深澤良彰 (早稲田大 基幹理工) ,  宗像一樹 (富士通研) ,  森田純恵 (富士通研) ,  菊池慎司 (富士通研) ,  上原忠弘 (富士通研) ,  山本里枝子 (富士通研)
資料名： 日本ソフトウェア科学会大会講演論文集(CD-ROM)  (日本ソフトウエア科学会大会講演論文集(CD-ROM))
巻： 33rd  ページ： ROMBUNNO.FOSE3-3  発行年： 2016年 
JST資料番号： X0080B  ISSN： 1348-0901  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ソフトウェア開発工程におけるテスト工程中に発生する品質改善効率低迷状態は,欠陥は早期発見し修正を行った方が発生コストは削減されるという観点から好ましくない。そこで実開発業務内において実際に欠陥累計検出数と同累計修正数に大きな差が生じたサブシステムとその他の正常と思われるサブシステムのソースコードを比較し,統計的に有意な差の見られるソフトウェアメトリクスを特定した。この分析により特定されたメトリクスの測定値を実装工程中に監視することで,任意のサブシステムに発生する欠陥について修正効率が低くなる可能性を早期に予測し,修正などの対応を取ることが可能となる。分析の結果,総コード行数(CountLineCode)やクラス凝集度の欠如(PercentLackOfCohesion),ファンイン数(CountInput)及びファンアウト数(CountOutput)にサブシステムの品質改善効率低迷状態の有無に関連して統計的に有意な差が見られた。(著者抄録)

シソーラス用語： *ソフトウェアメトリックス ,  *品質管理 ,  ソフトウェア開発 ,  ソフトウェアプロセス ,  プロジェクト管理 ,  デバッギング ,  統計解析 ,  データ処理 ,  計算機コード ,  統計的推定 ,  *品質改善 ,  ソフトウェアテクノロジ ,  ソースコード ,  統計的有意性
準シソーラス用語： ソフトウェアプロジェクト管理 ,  統計処理

分類 (2件)： 計算機システム開発  (JD02010R) ,  品質管理一般  (KB04010A)

タイトルに関連する用語 (3件)： ソフトウェアメトリクス ,  測定値 ,  品質改善