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J-GLOBAL ID：201602236384099053   整理番号：16A0771581

ミリ波とテラヘルツ放射源のスペクトルプロファイリング法【Powered by NICT】

A spectral profiling method of mm-wave and terahertz radiation sources

著者 (7件)： Hadi R. Al (University of California, Los Angeles 90095, USA) ,  Zhao Y. (University of California, Los Angeles 90095, USA) ,  Li Y. (University of California, Los Angeles 90095, USA) ,  Du Y. (University of California, Los Angeles 90095, USA) ,  Curwen C. (University of California, Los Angeles 90095, USA) ,  Williams B. S. (University of California, Los Angeles 90095, USA) ,  Chang M.-C. F. (University of California, Los Angeles 90095, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： IMS  ページ： 1-3  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 付加的なテラヘルツ装置を使用しないミリ波とテラヘルツ源の発光スペクトルの特性化法について報告した。これら放射源の逆特性を利用する。この方法はアンテナを備えた任意の源に適用することができる。は二つの異なる源のスペクトル応答を特性化するために使用されてきた。第一は0.35THzリング発振器であり,第二は0.55THz Colpitts発振器,65nm CMOS技術で実現したである。提案した特性化法の結果には,FTIR分光計及び市販の高調波混合器で検証した。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： キャラクタリゼーション ,  発振器 ,  アンテナ ,  *テラヘルツ波 ,  高調波 ,  発光スペクトル ,  リング発振器 ,  *EHF波 ,  混合装置 ,  CMOS
準シソーラス用語： スペクトル応答 ,  *テラヘルツ放射 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 音声処理  (JE05000E) ,  リモートセンシング一般  (AD04000L) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： ミリ波 ,  テラヘルツ放射 ,  スペクトル ,  プロファイリング