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J-GLOBAL ID:201602236480953545   整理番号:16A0663405

基板上の溶媒分子の数密度分布: 原子間力顕微鏡法のための変換理論

Number density distribution of solvent molecules on a substrate: a transform theory for atomic force microscopy
著者 (10件):
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巻: 18  号: 23  ページ: 15534-15544  発行年: 2016年06月21日 
JST資料番号: A0271C  ISSN: 1463-9076  CODEN: PPCPFQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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液体中の原子間力顕微鏡(AFM)は,プローブと埋め込み基板との間の力曲線を測定することができる。測定された力曲線の形状は,基板上の水和構造と関連する。しかし,今まで,プローブと基板との間に閉じ込められた液体の処理が困難な問題であるため,力曲線を水和構造に変換できる実用的理論は存在しなかった。ここでは,力曲線から基板上の溶媒分子の数密度分布を生成できる堅牢かつ実用的変換理論を提案した。一例として,新たに製造した超カンチレバーをもつ高分解能AFMにより測定した力曲線を,分析した。白雲母(001)表面上の水和構造を,変換理論を用いて力曲線から再生できることを実証した。変換理論は,AFMの能力を向上させ,固/液界面の構造解析を支持する。変換理論を用いて,実際のプローブ頂部の有効径も取得した。この結果は,分子スケールシミュレーションのモデルプローブを設計するために重要である。Copyright 2016 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST
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顕微鏡法 
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