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J-GLOBAL ID：201602240414372112   整理番号：16A1149244

めっき腐食生成物のXAFSによる評価

Characterization of the Corrosion Product of Plating by XAFS

著者 (5件)： 杉山信之 (科学技術交流財団 あいちシンクロトロン光セ) ,  吉田陽子 (あいち産業科学技術総合セ) ,  杉本貴紀 (あいち産業科学技術総合セ 産技セ) ,  中尾俊章 (あいち産業科学技術総合セ) ,  小林弘明 (あいち産業科学技術総合セ 産技セ)
資料名： Journal of Surface Analysis  (Journal of Surface Analysis)
巻： 23  号： 1  ページ： 19-29  発行年： 2016年10月 
JST資料番号： L3852A  ISSN： 1341-1756  CODEN： JSANFX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線吸収微細構造(XAFS)による分析について,ほかの表面分析技術との違いを明らかにするため,複合サイクル試験後の溶融亜鉛めっき鋼板を,XAFS,走査電子顕微鏡(SEM),X線光電子分光法(XPS)及びX線回折で測定し,結果を比較した。試料は溶融亜鉛めっき鋼板及び溶融亜鉛合金めっき鋼板で,これらの複合サイクル試験前,試験途中,試験後の表面を各分析法で評価した。その結果,XAFSではSEMによる元素分析ではわからない価数の変化を知ることができ,また,XAFS測定手法を変えることで表面数nmから数μmの情報を取り出すことが可能であった。(著者抄録)

シソーラス用語： *亜鉛めっき鋼板 ,  合金化亜鉛めっき鋼板 ,  *溶融めっき ,  *亜鉛めっき ,  *XAFS ,  腐食 ,  *腐食生成物 ,  X線回折 ,  X線光電子分光法 ,  電子顕微鏡観察 ,  走査電子顕微鏡
準シソーラス用語： 走査電子顕微鏡観察 ,  *溶融亜鉛めっき

分類 (2件)： 溶融めっき  (WC08026A) ,  腐食  (WB03030B)

引用文献 (6件)：

• [1]\t太田俊明 編:X線吸収分光法-XAFSとその応用-,(2002),アイピーシー.
• [2]\t大西正己,若松良徳,下崎敏唯, 鉄と鋼, 80, 446 (1994).
• [3]\t篠原正, 表面技術, 62, 25 (2011).
• [4]\t日本工業規格 JIS H8502.
• [5]\tB. R. Strohmeier, and D. M. Hercules, J. Catal., 86, 266 (1984).

タイトルに関連する用語 (4件)： めっき ,  腐食生成物 ,  XAFS ,  評価