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J-GLOBAL ID：201602245423931844   整理番号：16A0639835

X線による孤立クラスターの電子状態計測=ナノ触媒材料の高性能化を目指して=

著者 (3件)： 早川鉄一郎 (コンポン研) ,  荒川雅 (九大) ,  寺嵜亨 (九大)
資料名： 光アライアンス  (Optical Alliance)
巻： 27  号： 8  ページ： 42-46  発行年： 2016年08月01日 
JST資料番号： L1746A  ISSN： 0917-026X  CODEN： HARAEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線吸収分光は,元素選択性を特長とする分析手段として物質科学で広く使われている。しかしナノスケールの物質系への適用には困難があった。近年可能となった孤立クラスターの電子状態計測法について解説し,測定例を紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *X線 ,  *孤立系 ,  *クラスタ ,  *電子状態 ,  *計測 ,  *ナノ材料 ,  *触媒 ,  X線吸収分光法 ,  元素 ,  選択性 ,  材料科学
準シソーラス用語： *高性能化

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O)

タイトルに関連する用語 (6件)： X線 ,  クラスター ,  電子状態 ,  計測 ,  触媒材料 ,  高性能化