文献

J-GLOBAL ID：201602248353262331   整理番号：16A1234905

小角X線散乱の分子ふるい研究への応用【JST・京大機械翻訳】

Review on application of small angle X-ray scattering to synthesis and characterization of zeolite

著者 (4件)： Gong Yanjun (College of Chemical Engineering, the Key Laboratory of Catalysis of CNPC, China University of Petroleum(Beijing)) ,  Liu Rugeng (College of Chemical Engineering, the Key Laboratory of Catalysis of CNPC, China University of Petroleum(Beijing)) ,  Zhao Xiaomeng (College of Chemical Engineering, the Key Laboratory of Catalysis of CNPC, China University of Petroleum(Beijing)) ,  Zhang Heng (College of Chemical Engineering, the Key Laboratory of Catalysis of CNPC, China University of Petroleum(Beijing))
資料名： Huagong Xuebao  (Huagong Xuebao)
巻： 67  号： 8  ページ： 3146-3159  発行年： 2016年 
JST資料番号： E0215B  ISSN： 0438-1157  CODEN： HUKHAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 小角X線散乱(SAXS)はナノスケールの範囲内で物質の内部電子密度不均一性を調べるための物理的手段である。シンクロトロン放射光源小角X線散乱(SAXS)の利点と特性を紹介し,ゾル-ゲルプロセス,ゼオライト合成プロセス及び分子ふるい特性に於けるSAXS技術の最近の進歩を系統的に総括した。特に,ゾル-ゲル系におけるシリカ種の存在と,ゼオライトの合成に及ぼすそれらの影響を研究し,分子ふるいのフラクタル構造,粒径,およびメソポーラス分子ふるいのサイズ,モルフォロジー,および分子ふるいの界面特性を研究した。最後に,分子ふるいの研究におけるSAXSの問題点を分析し,この分野における将来の研究方向を展望した。Data from the ScienceChina, LCAS.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： フラクタル ,  粒径 ,  電子密度 ,  不均一性 ,  二酸化ケイ素 ,  *分子ふるい ,  モルフォロジー ,  シンクロトロン放射
準シソーラス用語： 界面特性 ,  メソ多孔質分子ふるい ,  ゼオライト合成 ,  ナノスケール , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： SAXS ,  zeolite ,  sol-gel ,  mesoporous materials ,  characterization method

分類 (1件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

タイトルに関連する用語 (4件)： 小角X線散乱 ,  分子ふるい ,  研究 ,  応用